全譜直讀電感耦合等離子體光譜儀 ICP-OES是新一代全譜直讀型電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀，主要應用于各類樣品中主量、微量及痕量元素的定性、半定量和定量分析。

儀器以棱鏡、高分辨率中階梯光柵二維交叉色散全譜直讀型光學系統(tǒng)為基礎，由進樣系統(tǒng)、射頻發(fā)生器、垂直等離子體炬、雙向觀測外光路系統(tǒng)、百萬像素大面陣CCD檢測器、全質量流量計（MFC）氣體控制系統(tǒng)、分析軟件和計算機系統(tǒng)組成。全自動控制，儀器監(jiān)控儀表全部由計算機控制，儀器參數(shù)無需手動調節(jié)的等離子體發(fā)射光譜儀。儀器預熱時間短，以滿足生產(chǎn)科研需求。

優(yōu)勢特點

• 主動隔離各功能模塊間的電、磁、熱所產(chǎn)生的干擾疊加，帶來良好的分析穩(wěn)定性和數(shù)據(jù)可靠性，為個性化分析條件提供有力保障

• 自主研發(fā)的全固態(tài)晶體控制型射頻發(fā)生器具有良好的功率穩(wěn)定性，增強基體改變時等離子體的耐受能力，有效功率可實時監(jiān)控，基體匹配范圍廣，輕松應對高鹽、揮發(fā)性有機溶劑等復雜基體樣品

• 觀測模式多種可選：徑向觀測、軸向觀測、雙向觀測、軸向衰減、徑向衰減和雙向衰減，一次進樣實現(xiàn)全濃度覆蓋（ppb ~ %）

• 前光路系統(tǒng)獨立吹掃，采用雙焦距超環(huán)面反射鏡，具備良好的成像能力；采用微正壓設計的光室密閉技術，節(jié)省深紫外區(qū)吹掃時間，可節(jié)省氬氣，提高測試效率

• 通過 MPS 多支柱結構設計的 CCD檢測器與光室熱隔離，隔絕光室熱輻射，相同制冷能力下，降低暗電流，獲得更低的檢出限

• HiICP 軟件操作方便、直觀，具有定性、半定量、定量分析功能，具有在線及離線兩種模式，即在分析樣品的同時，能同時進行測試